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EL檢測常見問題及解決方法

作者: 三工光電   時間:2015-11-17 閱讀:2784


1、破片

生產過程中由于鋪設、層壓操作不當導致熱應力、機械應力作用不均勻都有可能出現破片現象。

2、黑芯

黑芯一般是由于原材料商在拉硅棒的時候沒有拉均勻所致。

3、斷柵

斷柵的原因是絲網印刷參數沒調好或絲網印刷質量不佳,或者是硅片切割不均勻,也有可能出現斷層現象。

4、暗片

出現暗片的原因是由于硅片存在缺陷,導致少子數目變少,在電致發光的作用下,缺陷出發出的光相對比正常地方發出的光少,所以在相機的照片中顯出黑暗。

5、低效片

若低電流、電壓、FF可能是硅片和PN結的問題;也有可能是擴散的問題或原材料的問題如(鋁漿)過刻的危害;減小有效光電池面積直接影響短路電流;增加電池材料的高頻損傷、降低電池參數;會造成一定程度的漏電。

解決方法:組件測試中出現以上幾種問題,都會對組件質量照成嚴重影響,必須做返工處理

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